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产品特点
1. 高性能高精度X荧光光谱仪（XRF）
2. 计算机 / MCA(多通道分析仪)
2048通道逐次近似计算法ADC（模拟数字转换器）
3. Multi Ray. 运用基本参数法（FP）软件，对样品进行精确的镀层厚度分析，可对镀液进行定量分析。
4. MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度及全元素分析
励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
线性模式进行薄膜镀层厚度测量
相对（比）模式 无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多镀层厚度同时测量
单镀层应用 [如：Cu/ABS等]
双镀层应用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
三镀层应用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]
四镀层应用 [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
合金镀层应 [如：Ni-Zn/Fe Sn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等]
5. Multi-Ray. 快速、简单的定性分析的软件模块。可同时分析20种元素。半定量分析频谱比较、减法运算和配给。
Multi-Ray 金属行业精确定量分析软件。可同时分析8种元素。*小二乘法计算峰值反卷积。采用卢卡斯-图思计算方法进行矩阵校正及内部元素作用分析。金属分析精度可达±0.02%，贵金属（8-24 Karat) 分析精度可达±0.05kt
Multi-Ray. 对镀液进行分析。采用不同的数学计算方法对镀液中的金属离子进行测定。含全元素、内部元素、矩阵校正模块。
6. Multi-Ray WINDOWS 7软件操作系统
7. 完整的统计函数均值、 标准差、 低/高读数，趋势线，Cp 和 Cpk 因素等
8. 自动移动平台，用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量,自动多点分析。每个阶段的文件有*多 25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含完全统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。